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一种微波电路的射频互连质量控制方法、装置及系统

발명유효
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10청구항 · 3 독립항
§ Ⅰ

개요

발명자

侯俊利; 史建成; 周金柱; 郑先飞; 李彤; 樊国壮; 韩宇祥; 付方雯昶; 郝立峰

IPC 분류

G06F 30/3953 (2020.01)G06F 30/398 (2020.01)G06F 115/12 (2020.01)

本发明公开了一种微波电路的射频互连质量控制方法、装置及系统,属于电子封装领域,包括步骤:S1,确定互连物理机构特征量的采样方案;S2,根据采样方案,构建描述物理结构的参数化模型;S3,根据参数化模型,构建物理结构到电性能的映射网络模型;S4,得到映射网络模型后,通过二端口网络级联得到整体的微波电路特性。本发明可以预测不同互连类型中不同形状物理结构的电性能。