控制栅测试电压的产生电路及测试沟道电流的方法

本发明提供了一种控制栅测试电压的产生电路及测试沟道电流的方法，方法包括：选择待要测试的存储单元；接入第一电压VCGR和存储单元的信息地址，通过控制栅测试电压的产生电路获取第一控制栅测试电压CG1和第二控制栅测试电压CG0；将第一控制栅测试电压CG1和第二控制栅测试电压CG0分别施加到该存储单元的第一控制栅和第二控制栅上；读取存储单元的浮栅下方沟道的电流；增加控制栅测试电压的产生电路的第二电压VPP，调节第二电压VPP同时读取浮栅下方沟道电流，当达到参考电流时，若第二电压VPP的电压值较小，则认为存储单元的写入深度较浅。本发明提高了判断浮栅写入深度的精确度。