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기록

测试装置

발명유효
2조회수
10청구항 · 1 독립항
§ Ⅰ

개요

발명자

陈保林; 李阳; 张卫民

IPC 분류

G11C 29/56 (2006.01)G06F 11/22 (2006.01)

本申请涉及测试领域,提供一种测试装置,包括测试主板、数据通信模块、测试控制模块、硬件控制模块以及环境温度控制模块;测试主板用于对插接于其上的多个存储设备进行测试;测试主板用于在执行测试过程中获取每个存储设备的运行温度;测试控制模块用于通过数据通信模块从测试主板获取每个存储设备的元件运行温度并传输给硬件控制模块;环境温度控制模块用于在执行加热操作时对测试环境进行升温,并将感测到的测试环境温度传输给硬件控制模块;硬件控制模块用于根据元件运行温度执行温度精细控制,并根据测试环境温度执行温度粗略控制。