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案件記録

PIP电容的制作方法

発明有効
6請求項 · 2 独立
§ Ⅰ

案件概要

発明者

杨文广; 王飞飞; 方文霞; 时雪如; 姚文博

IPC分類

H10D 1/68 (2025.01)H10B 41/40 (2023.01)

本申请公开了一种PIP电容的制作方法,包括:提供一衬底,衬底上形成有耦合氧化物层,耦合氧化物层上形成有第一多晶硅层,第一多晶硅层的上方形成有第二多晶硅层,衬底的第一区域中形成有字线多晶硅,第一区域形成有第一氧化物层和第二氧化物层;对第一区域和第二区域进行刻蚀,直至第二区域的耦合氧化物层暴露;形成第三氧化物层;在第三氧化物层上形成第三多晶硅层;对第一区域进行刻蚀,去除第一区域的第三多晶硅层且在第一区域的第一氧化物层、第一多晶硅层和第二多晶硅层中形成第一沟槽;对第二区域进行刻蚀,在第二区域的第三多晶硅层中形成第二沟槽;对第三区域进行刻蚀,在第三多晶硅层中形成第三沟槽。

外部リソース