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一种栅槽形貌精确可控的T型栅及其制备方法

발명유효
1조회수
8청구항 · 2 독립항
§ Ⅰ

개요

발명자

侯斌; 陈凯文; 杜佳乐; 杨凌; 芦浩; 张濛; 武玫; 马晓华; 郝跃

IPC 분류

H10D 30/01 (2025.01)H10D 30/47 (2025.01)H10D 64/01 (2025.01)

本发明公开了一种栅槽形貌精确可控的T型栅及其制备方法,该方法包括:获取外延基片,并在其表面沉积钝化层;在钝化层的上表面旋涂热回流光刻胶,并进行曝光和显影,形成第一光刻胶图案;对样品进行热回流处理,使第一光刻胶图案转变为第二光刻胶图案;以第二光刻胶图案作为掩膜,采用快速刻蚀与慢速刻蚀相结合的方式刻蚀钝化层,形成栅极凹槽;去除样品表面的残胶,在样品表面依次旋涂一层剥离胶和一层光刻胶后,对样品进行曝光及显影,形成覆盖栅极凹槽的栅帽图案;将样品转移至电子束蒸发腔室中蒸镀栅金属,并剥离其它未曝光区域的光刻胶和栅金属,形成T型栅。本发明不仅可以精确控制T型栅的尺寸,还能改善T型栅的栅槽侧壁陡直性问题。