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案件記録

半导体器件及其形成方法

発明有効
10請求項 · 3 独立
§ Ⅰ

案件概要

発明者

锺政庭; 陈豪育

IPC分類

H10D 84/03 (2025.01)H10D 84/01 (2025.01)H10D 84/85 (2025.01)

在相同衬底上方形成互补场效应晶体管(CFET)和纳米结构场效应晶体管(NSFET)以形成半导体器件。CFET通过将晶体管垂直堆叠在一起实现高晶体管集成密度,并且可以适合于实施先进逻辑电路。NSFET实现高驱动电流,并且可以适合于高性能单元和/或诸如单极单元的特殊单元。本文公开的结构和工艺流程允许CFET和NSFET在相同半导体管芯中共存,以利用CFET和NSFET的益处。所公开的工艺流程可以容易地集成至用于形成NSFET器件的当前工艺流程中,并且有助于推动CFET技术的发展,并且能够创建更高效和更强大的半导体器件。本申请的实施例还涉及半导体器件及其形成方法。

外部リソース