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案件記録

晶体管器件及其形成方法

発明有効
10請求項 · 3 独立
§ Ⅰ

案件概要

発明者

林志昌; 邱宗凯; 江育贤; 余建霖; 杨固峰; 廖思雅

IPC分類

H10D 84/85 (2025.01)H10D 84/01 (2025.01)

提供了沟道隔离结构及其形成方法。一种器件包括:多层堆叠件,包括:第一多个纳米结构;第二多个纳米结构,位于第一多个纳米结构上方;以及第一沟道隔离结构。该器件还包括:第一源极/漏极区,位于第一多个纳米结构的相对端上;第二源极/漏极区,位于第一源极/漏极区上方,第二源极/漏极区位于第二多个纳米结构的相对端上;第一栅极结构,围绕第一多个纳米结构;以及第二栅极结构,围绕第二多个纳米结构。第一栅极结构接触第一沟道隔离结构的第一横向表面。本申请的实施例公开一种晶体管器件及其形成方法。

外部リソース