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案件記録
一种红外焦平面阵列芯片组件背减薄抛光制备方法
発明有効
2請求項 · 1 独立
§ Ⅰ
案件概要
発明者
李蓉; 张彧熙
IPC分類
H10F 39/12 (2025.01)H10P 52/00 (2026.01)H10P 54/00 (2026.01)H10P 70/00 (2026.01)H10F 39/00 (2025.01)B28D 5/00 (2006.01)B24B 37/00 (2012.01)B24B 57/02 (2006.01)
一种红外焦平面阵列芯片组件背减薄抛光制备方法,所述一种红外焦平面阵列芯片组件,铟柱均匀分布于锑化铟芯片下表面与电路上表面之间,所述填充胶采用真空灌注于锑化铟芯片下表面与电路上表面之间;所述背减薄抛光制备方法包括倒装互连、环氧胶填充固化、石英衬底粘接、单点金刚石车削、化学机械抛光、清洗与腐蚀;本发明采用单点车机械加工方式不产生损裂,不产生坑状点应力损伤,PV值小于1μm,加工过程可控,改变了传统向下加压的研磨方式,克服了组件面型翘曲所面临的加压裂片,厚度不均匀难点,可在红外焦平面阵列芯片获得广泛应用。
外部リソース