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案件記録
一种高质量、低残余应力的AlN模板及其制备方法
発明有効
10請求項 · 2 独立
§ Ⅰ
案件概要
発明者
贺钟冶; 张立胜
IPC分類
H10H 20/01 (2025.01)C23C 28/04 (2006.01)C23C 14/48 (2006.01)C23C 14/34 (2006.01)C23C 14/08 (2006.01)C23C 16/30 (2006.01)H10H 20/815 (2025.01)H10H 20/817 (2025.01)
本申请涉及一种高质量、低残余应力的AlN模板及其制备方法,属于半导体技术领域。该制备方法包括以下步骤:步骤1、对蓝宝石衬底进行Ar离子注入得到蓝宝石衬底中间体;Ar离子注入包括:通入Ar的气体体积流量为10~100sccm;步骤2、在蓝宝石衬底中间体上溅射第一AlN层;第一AlN层厚度为10~15nm;步骤3、在第一AlN层上1200~1300℃沉积第二AlN层;步骤4、将第二AlN层退火后清洗,得到AlN中间层;AlN中间层存在微裂纹;微裂纹的宽度为0.01~1μm;步骤5、在AlN中间层上依次生长低温AlN层和高温AlN层,得到AlN模板。该制备方法在保障AlN模板高晶体质量、低翘曲的基础上,有效提高其面内应力均匀性。
外部リソース