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기록
半导体结构及半导体结构的制备方法
발명유효
15청구항 · 2 독립항
§ Ⅰ
개요
발명자
刘明旭; 李辉; 李杰; 张民慧
IPC 분류
H10N 97/00 (2023.01)H10B 12/00 (2023.01)
本公开提供了半导体结构及半导体结构的制备方法,涉及半导体技术领域。该半导体结构包括:衬底;位于衬底上方的支撑结构以及间隔排布的电容孔,电容孔贯穿支撑结构;位于电容孔内的下电极,其中,下电极包括第一下电极层、第二下电极层和第三下电极层,第一下电极层覆盖电容孔的底部和侧壁,第二下电极层共形于第一下电极层,并构成空腔,第三下电极层填充于空腔;其中,第二下电极层的功函数大于第一下电极层的功函数,且大于第三下电极层的功函数。根据本公开实施例,能够改善半导体结构的漏电性能,同时降低半导体结构的电阻。