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一种硅基氮化物薄膜及其制备方法、半导体器件

발명유효
2조회수
10청구항 · 3 독립항
§ Ⅰ

개요

발명자

高江东; 张建立

IPC 분류

H10P 14/24 (2026.01)

本申请涉及硅基氮化物薄膜及其制备方法、半导体器件,制备方法包括:提供硅衬底,将硅衬底置于反应腔中;向反应腔中通入氢气以对硅衬底进行表面预处理;向反应腔中通入氮源气体以在硅衬底表面形成氮化层;向反应腔中通入铝源气体,以使氮化层表面的氮原子与铝原子吸附成键形成氮化铝薄膜;排出反应腔中的氢气;在氮化铝薄膜上形成氮化镓层,包括依次形成氮化镓致密成核层、氮化镓融合层以及氮化镓模板主体层。通过氮化衬底以在硅衬底表面形成氮化层,并使氮化层表面的氮原子与铝原子吸附成键形成氮化铝薄膜,然后排出反应腔中的氢气再形成氮化镓层,解决了在硅衬底上形成氮化镓层时发生回熔与龟裂问题,提高了硅基氮化物薄膜的品质。