검색으로 돌아가기
기록
一种针对厚金属层的晶圆切割方法
발명유효
6청구항 · 1 독립항
§ Ⅰ
개요
발명자
宋俊丰; 陈之文; 范俊
IPC 분류
H10P 58/00 (2026.01)H10P 54/00 (2026.01)
本发明涉及芯片封装技术领域,具体的说是一种针对厚金属层的晶圆切割方法。一种针对厚金属层的晶圆切割方法,具体方法流程如下:S1,对晶圆的背面进行研磨,达到所需的厚度;S2,对晶圆的背面进行贴膜,并安装铁环支撑;S3,对晶圆正面沿切割道进行激光开槽;S4,对完成激光开槽的晶圆的正面进行清洗;S5,把清洗好后的晶圆移动到隐形切割设备的工作台上,对晶圆正面的槽底位置进行隐形切割,在开好槽的槽底进行隐形切割作业,并在晶圆硅面形成BHC;S6,对晶圆进行蹦膜;S7,对完成蹦膜的晶圆进行清洗。同现有技术相比,此种加工方法提高了晶圆切割的加工能力,即厚金属晶圆的金属厚度在20μm~80μm范围内可以加工;降低了加工成本。