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기록

提高晶圆工艺稳定性的装置及方法

발명유효
8청구항 · 2 독립항
§ Ⅰ

개요

발명자

彭帆; 朱瑶; 吴斌

IPC 분류

H10P 72/76 (2026.01)H10P 50/20 (2026.01)H01J 37/32 (2006.01)

本发明提出了一种提高晶圆工艺稳定性的装置及方法,该装置包括:压环、框架晶圆、盖环,由上到下分布;框架晶圆,其包括依次连接的晶圆、衬底膜和承接环;第二状态前承接环的下表面与晶圆顶针接触,晶圆顶针的下端与顶针支撑环连接;顶针支撑环套设于腔体外部;腔体内设置下电极;压环,用于和盖环之间形成包裹衬底膜和承接环的空间,其可随顶针支撑环上下移动,其围成晶圆避让区域;盖环,用于承载压环、衬底膜和承接环,其与下电极连接并延伸出腔体,其与腔体连接,其上开设用于避让晶圆顶针的凹槽。本发明改善了衬底膜形变问题,提高了晶圆工艺稳定性。