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案件記録

一种芯片凸点制作方法及真空焊炉

発明有効
10請求項 · 2 独立
§ Ⅰ

案件概要

IPC分類

H10W 72/20 (2026.01)B23K 1/20 (2006.01)B23K 1/008 (2006.01)B23K 3/08 (2006.01)B23K 3/04 (2006.01)G01B 15/02 (2006.01)G01B 11/06 (2006.01)H10P 74/00 (2026.01)B23K 101/40 (2006.01)

本发明涉及半导体芯片加工技术领域,提出了一种芯片凸点制作方法包括:所述芯片凸点制作方法包括:将芯片及治具放置在真空焊炉的加热板上;氧化层厚度检测装置检测芯片的氧化层厚度;根据氧化层厚度设置甲酸浓度、清洗时间和清洗温度;根据所述甲酸浓度、所述清洗时间和所述清洗温度,将真空焊炉抽真空并充入甲酸,真空焊炉的压力升压至第一压力;将真空焊炉的腔体抽至第一真空,充入惰性气体,腔体压力升至常压,再次抽真空至第二真空度,重复多次;执行焊接步骤;执行冷却步骤。芯片封装焊接质量高。

外部リソース