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기록
一种石墨电极制造过程的无损检测方法
발명유효
10청구항 · 1 독립항
§ Ⅰ
개요
발명자
王任平; 罗烨栋; 路正炯; 乔立新
IPC 분류
G01N 23/046 (2018.01)G06F 18/24 (2023.01)G06F 18/10 (2023.01)G06F 18/213 (2023.01)G06F 18/25 (2023.01)G06V 10/20 (2022.01)G06V 10/24 (2022.01)G01N 29/04 (2006.01)G01N 29/44 (2006.01)
本发明涉及石墨电极检测技术领域,公开了一种石墨电极制造过程的无损检测方法,包括以下步骤:S1:石墨电极预处理与定位固定;S2:高分辨率X射线CT三维扫描成像;S3:相控阵超声全区域扫描与信号处理;S4:多模态数据融合与AI缺陷识别;S5:缺陷定量评估与检测报告生成;S6:将检测数据传输至企业生产执行系统与可编程逻辑控制器,以实现可追溯性,或触发不合格品剔除指令,完成石墨电极制造过程的质量闭环控制。本发明与现有技术相比的优点在于:提供一种多模态协同、智能化、闭环可控的无损检测方法,实现石墨电极内部宏观缺陷与微观缺陷的精准识别,同时联动生产系统优化工艺,降低废品。