一种芯片测试方法、系统和存储介质

本发明涉及电路的测试技术领域，尤其涉及一种芯片测试方法、系统和存储介质。其中芯片测试方法通过在编译期/加载期将通道名称、测试向量标签等符号信息转译为索引值；并预先初始化好基于这些索引的数组数据结构。在执行测试时，无需再像现有技术那样在运行时进行字符串查找和哈希计算来解析这些符号，而是通过一次数组索引操作即可直接获取到通道对象或测试向量地址。这消除了大量的冗余运行时计算，极大地减少了每个测试指令的执行时间，提升了测试效率。