一种芯片扫描电路

本申请涉及芯片测试技术领域，特别是涉及一种芯片扫描电路，该电路包括：扫描模式选择信号、P个第一扫描单元{q，q，…，q，…，q}、S个第二扫描单元{r，r，…，r，…，r}、第二接口、第三接口、第四接口、第五接口、第一选择器和第二选择器，第一选择器包括第一使能端、第一选择输入端口、第二选择输入端口和第一选择输出端口，第二选择器包括第二使能端、第三选择输入端口、第四选择输入端口和第二选择输出端口，通过所设计的扫描模式下的电路，使得通过切换扫描模式选择信号的电平即可对应切换扫描链的连接方式，从而适应全扫描模式和压缩扫描模式，极大提高了扫描测试的灵活性，从而能够适用复杂的测试需求。