DDR转接板及其寿命检测方法、存储介质

本申请公开了一种DDR转接板及其寿命检测方法、存储介质，涉及测试技术领域，公开了DDR转接板，包括金手指、EEPROM、插槽以及IIC地址转换电路；所述EEPROM与IIC地址转换电路电连接，IIC地址转换电路与IIC总线中的地址总线电连接，地址总线的一端与金手指的IIC地址接口电连接，另一端与插槽的IIC地址接口电连接；所述IIC地址转换电路用于将地址总线的IIC地址进行转换，获得目标IIC地址，并将目标IIC地址写入EEPROM；所述EEPROM用于存储转接板对应的已插拔次数以及剩余插拔次数。本申请实现了DDR转接板的使用寿命的准确检测，提升了SODIMM的测试效率和质量。