电子器件的缺陷检测方法、装置、光学检测设备及介质

本申请涉及计算机视觉技术领域，尤其涉及一种电子器件的缺陷检测方法、装置、光学检测设备及介质，用于解决传统缺陷检测存在着误判率高问题，该方法为：获取包含待检测元器件的待测图像，并对待测图像进行图像分割，得到多个第一图像；将多个第一图像，分别与标准图像的各第二图像进行特征匹配，得到待测图像与标准图像之间的各有效特征点对，其中，标准图像与待测图像的器件标识相同，各第二图像是对标准图像进行图像分割得到的，每个第一图像对应一个第二图像；基于各有效特征点对的欧式距离与偏移阈值，得到该待检测元器件的缺陷检测结果；这样，提高了特征点匹配准确率，可以更好地识别出待检测元器件是否存在偏移缺陷，提升缺陷检测准确率。