物体表面缺陷信息获取方法、装置、电子设备和存储介质

本申请公开了一种物体表面缺陷信息获取方法、装置、电子设备和存储介质，属于工业检测技术领域。方法包括：基于目标物体的表面图像，获取所述目标物体的表面法向量矩阵；基于所述表面法向量矩阵，获取至少两种表面特征图像；针对每一所述表面特征图像，生成表面缺陷信息图。本申请公开的物体表面缺陷信息获取方法，以解决仅凭单一特征获取物体表面缺陷信息的效果不理想的问题。