一种阻变存储阵列测试装置

本发明公开了一种阻变存储阵列测试装置，属于半导体存储器件测试技术领域，包括上位机、基于ZYNQ平台的控制逻辑模块、多通道模数/数模转换模块和待测阻变存储阵列；所述上位机与所述基于ZYNQ平台的控制逻辑模块通信连接；所述基于ZYNQ平台的控制逻辑模块与多通道模数/数模转换模块通信连接；所述多通道模数/数模转换模块的输出端与所述待测阻变存储阵列通信连接；所述多通道模数/数模转换模块的输入端与所述待测阻变存储阵列通信连接。本发明确保了激励信号生成和响应信号测量的精度，实现高精度与高性能，保证系统的高灵活性与可配置性，极大地提高了测试效率，成本显著降低。