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기록

非接触式导电单元及其性能测试方法

발명유효
10청구항 · 2 독립항
§ Ⅰ

개요

발명자

杨炜; 韩丹; 潘涛; 陈凡; 浦栋麟

IPC 분류

H01F 27/24 (2006.01)G01R 31/00 (2006.01)G01R 1/28 (2006.01)H01F 27/30 (2006.01)H01F 27/34 (2006.01)H01F 1/12 (2006.01)

本发明关于一种非接触式导电单元及其性能测试方法,涉及高频超声波领域。本技术方案采用磁饱和强度≥1.2T的软磁复合材料替代传统铁氧体,大幅提升磁饱和性能,解决铁氧体磁饱和强度≤0.5T导致的能量传递效率低问题,且加工精度高,改善了铁氧体加工精度难控制的缺陷;并且,非接触式导电单元采用U形相对的半封闭结构,将磁通量限制在磁芯内部,减少磁场泄露以抑制电磁干扰,同时近似封闭环境提升散热性;此外,通过铁芯尺寸、绕组匝数及导线截面积的设计,并提供示波器与电流钳组合、功率分析仪两种测试方法,可精准测算传输功率与效率,进而能够便于后续不断地进行导电单元的性能优化。