一种芯片复位电路

本申请涉及芯片测试技术领域，特别是涉及一种芯片复位电路，该电路通过电路设计使得上电复位信号可以作用于测试模式相关的寄存器和振荡器，以及测试子模式相关的寄存器和第一通信模块，保证了上电复位的有效性，热复位信号仅可以作用于测试子模式相关的寄存器和第一通信模块，而不对测试模式相关的寄存器和振荡器进行复位，从而避免热复位信号影响测试模式正常运行，提高了芯片复位系统的稳定性，进而提高了进入芯片测试模式以及测试子模式的稳定性，另外，实施者可以通过热复位在子测试模式之间进行快速切换，而无需通过上下电来切换模式，避免通过上电复位实现模式切换时引入额外的耗时，从而引入额外的测试成本。