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案件記録
一种可变电容的SGT晶体管的制作方法和SGT晶体管
発明有効
10請求項 · 2 独立
§ Ⅰ
案件概要
発明者
蔡远飞; 何昌
IPC分類
H10D 30/01 (2025.01)H10D 30/66 (2025.01)H10W 20/20 (2026.01)H10W 20/00 (2026.01)
本申请涉及半导体技术,公开了一种可变电容的SGT晶体管的制作方法和SGT晶体管,包括:在主体上表面制作介质层后,在主体不同布局位置处分别制作相应的源极接触孔和栅极接触孔;在主体上表面制作正面金属层,并刻蚀正面金属层,分别形成连通源极接触孔的源极、连通主栅接触孔的主栅极、连通副栅接触孔的副栅极;在主体背面制作背面金属层作为漏极,得到SGT晶体管;其中,主栅极和副栅极相接、副栅极与源极断开时,SGT晶体管具有第一电容值;主栅极和副栅极断开、副栅极与源极相接时,SGT晶体管具有第二电容值;第一电容值大于第二电容值。本申请旨在实现可变电容的SGT晶体管的制作,以适配不同应用场景对输入电容的要求。
外部リソース