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机床探头检测方法、电子设备及存储介质

발명유효
10청구항 · 3 독립항
§ Ⅰ

개요

발명자

占天明; 孙小冬; 王志欢; 石荣林

IPC 분류

B23Q 3/00 (2006.01)B23Q 17/00 (2006.01)

本申请涉及检测设备技术领域,公开了一种机床探头检测方法、电子设备及存储介质。检测方法包括:控制夹持装置夹持机床探头;控制夹持装置移动,使机床探头与标准样件接触,以使机床探头测得标准样件的测量尺寸并记录机床探头的探针被触发的触发次数,且将检测次数加1并将触发次数叠加至触发总次数;在检测次数小于第一预设次数时,将触发次数清零并返回执行前述第2个步骤;在检测次数等于第一预设次数且触发总次数大于第二预设次数时,显示检测异常信息。本申请的这种检测方法可提升对机床探头检测的检测结果的准确性。