検索に戻る
案件記録

一种涂层厚度检测的制样方法

発明有効
10請求項 · 1 独立
§ Ⅰ

案件概要

発明者

张月; 黄文长; 付磊; 李建新; 卢芊羽

IPC分類

G01N 1/28 (2006.01)G01B 21/08 (2006.01)

本申请涉及一种涂层厚度检测的制样方法,其包括如下步骤:对基材进行循环加热和冷却处理,得到基材本体与涂层局部分离的弱结合基材;在所述弱结合基材的涂层局部分离区域,形成沿涂层厚度方向延伸的划口,得到垂直于基材表面的涂层截面样品。由于基材本体与涂层线切割膨胀系数差异,通过循环加热与冷却过程,在两者界面处引发交变热应力,使基材与涂层实现可控的局部分离,得到弱结合基材,在已局部分离的涂层表面制备沿厚度方向延伸的划口,通过简易机械分离即可获得垂直于基材表面的涂层截面样品。能够在无需依赖昂贵或高损伤性设备的前提下,高效、低成本地制备出截面清晰、完整性好的涂层样品。

外部リソース