一种基于高光谱成像技术的小麦籽粒品质检测及功能基因解析的方法

本发明公开了一种基于高光谱成像技术的小麦籽粒品质检测及功能基因解析的方法，属于农业检测技术领域。方法包括：提取高光谱指数；测定小麦籽粒品质指标作为人工测量值；赋予每个品质指标权重系数，数字化小麦品质表型；提取特征波长，建立每种指标以及小麦品质值的预测模型；高光谱指数及化学指标作为表型性状分别与基因型进行GWAS，筛选SNP位点，共定位分析，获取候选基因并功能验证。本发明通过高光谱技术结合化学计量学建模，适用于小麦品质育种及加工过程中的实时监测；将光谱表型与GWAS基因挖掘结合，突破传统品质检测仅服务表型筛选的局限，形成“无损检测‑基因定位”闭环，为小麦品质改良提供靶向基因。