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기록
基于散射光检测的激光加工实时缺陷监测装置及方法
발명유효
10청구항 · 2 독립항
§ Ⅰ
개요
발명자
许剑锋; 白龙; 钟韩秀; 孙浩
IPC 분류
G01N 21/88 (2006.01)B23K 26/70 (2014.01)B23K 26/00 (2014.01)G06F 18/2431 (2023.01)G06F 18/27 (2023.01)G06F 18/2415 (2023.01)G06F 18/21 (2023.01)G06F 18/214 (2023.01)G06N 3/0464 (2023.01)G06N 3/047 (2023.01)G06N 3/048 (2023.01)G06N 3/092 (2023.01)G01N 21/49 (2006.01)G01N 21/01 (2006.01)
本发明属于激光加工质量检测相关技术领域,并公开了一种基于散射光检测的激光加工实时缺陷监测装置,其包括散射光检测模块、信号处理模块和显示预警模块,其中散射光检测模块为一体化集成设计,用于实现“聚焦‑过滤‑衰减”的散射光检测功能;信号处理模块基于坐标注意力机制,对检测信号进行各类处理和增强,由此得出缺陷判断结果;显示预警模块用于对缺陷判断结果等数据进行显示,并根据缺陷严重程度发生不同等级的报警。本发明还公开了相应的监测方法。通过本发明,能够实现激光加工过程中对表层及亚表层缺陷的实时、精准识别,因而适于为半导体、光学元件、航空航天等领域的激光加工质量控制提供更为高效、可靠的解决方案。