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案件記録

一种集成贴标打码与封口质量控制的半导体成品包装系统

発明有効
10請求項 · 1 独立
§ Ⅰ

案件概要

発明者

谭沈一行; 谭贤君

IPC分類

G01R 19/00 (2006.01)B65B 43/18 (2006.01)B65B 43/36 (2006.01)B65B 51/10 (2006.01)G01R 19/165 (2006.01)H05H 1/48 (2006.01)H05F 3/02 (2006.01)G01N 33/00 (2006.01)

本发明公开了一种集成贴标打码与封口质量控制的半导体成品包装系统,涉及半导体包装领域,包括初检模块、去静电模块、静电实时监测与放电模块、气体处理模块和封口质量检测模块。通过高效的静电控制、封口质量检测和气体处理流程,实时监测半导体产品表面电压,精准触发放电措施,防止静电损害。封口过程中,动态调整封口温度、压力和速度,确保每一件产品的封口质量。优化气体交换过程,避免了气体浪费和质量波动。提升了自动化水平,提高了响应速度,降低了能耗和废品率。

外部リソース