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기록

自动切换测试器件的电路和测试盒

발명유효
10청구항 · 2 독립항
§ Ⅰ

개요

발명자

李京伟; 金叶陆

IPC 분류

G01R 31/00 (2006.01)G01R 31/26 (2020.01)G01R 19/00 (2006.01)G01R 1/04 (2006.01)G01R 1/02 (2006.01)

本申请公开一种自动切换测试器件的电路和测试盒。自动切换测试器件的电路包括控制模块和多个测试支路;各个所述测试支路分别用于提供一个负载器件;所述控制模块在对半导体参数分析仪的板卡进行带载测试时,接通一个测试支路,关断其他测试支路,以使接通的所述测试支路为所述板卡提供外接的负载器件。本申请可以采用简单的电路和控制流程使板卡能够稳定可靠地进行带载功能测试,避免繁琐的连接和频繁的更换器件,可以提升对应的测试效率,降低对应的测试成本。