一种芯片测试子模式的进入系统

本申请涉及芯片测试技术领域，特别是涉及一种芯片测试子模式的进入系统，该系统中，模式解码器根据子模式进入信息、M个测试子模式对应的编码信息，将对应的测试子模式的信号设置为预设第二电平，测试子模式的信号和测试模式信号作为测试子模式对应的与门的输入，测试子模式对应的与门作为测试选择器的输入，当测试子模式的信号和测试模式信号均为预设第二电平时，测试选择器进入测试子模式，仅需要第一通信端口的两个接口即可配置模式寄存器并进入测试子模式，在进入测试子模式后两个接口即可释放出来，用于参与测试激励输入，提高了接口的复用性，而且有效节省了芯片面积，降低了芯片设计和制造的成本，也提高了芯片子测试模式进入的便捷性。