一种集成电路元器件的耐候检测装置及其方法

本发明涉及集成电路元器件检测技术领域，具体为一种集成电路元器件的耐候检测装置及其方法，包括耐候检测装置，所述耐候检测装置的一侧下方设置有底部安装室，有益效果为：通过设计带有均匀间隔的间隔安装架，UV紫外线灯管、氙灯灯管安装在间隔安装架的间隔区域，并且在间隔区域外侧设置可旋转的光调节板，通过调整光调节板的转动角度可以调整对UV紫外线灯管、氙灯灯管的光反射变化，达到模拟全天候光照条件对集成电路元器件的光照耐候检测，并且控制光调节板完全闭合后，可以对安装UV紫外线灯管、氙灯灯管的间隔进行封闭，分离出喷淋测试区域，间隔安装架下方的增湿喷淋组件可以对集成电路元器件的喷淋检测，同时集成两种测试并且互不干涉。