一种芯片温度循环老化测试台

本发明公开了一种芯片温度循环老化测试台，涉及芯片老化测试技术领域。该测试台包括测试台本体、主动齿轮、从动齿轮、多个测试座以及用于吸附芯片的气缸和吸盘。本发明通过主动齿轮与从动齿轮的配合，实现了测试座的自动化开闭以及芯片的自动化吸附、放置和回收，并能处理损坏芯片，显著提高了芯片温度循环老化测试的自动化程度和效率，便于芯片的收集和管理。