一种自动化bar条激光芯片测试分筛装置

本发明公开了一种自动化bar条激光芯片测试分筛装置，涉及半导体激光芯片测试技术领域，包括，载物台，在其表面放置bar条激光芯片；探针组件，所述探针组件包括探针，所述探针用于与bar条激光芯片的顶电极建立物理接触，传递电信号；光源检测装置，所述光源检测装置与所述探针组件正对设置，用于检测bar条激光芯片的波段与光功率；云台，所述载物台设置在所述云台上。本发明把光谱监测、电流补偿和帕尔贴温控联动起来，将光谱漂移量转化为电流补偿量和温度补偿量，通过α/β/k系数建立物理关联模型，实现光谱漂移的跨维度补偿,既能够精准的控制微岛结构的温度,又能够提高bar条激光芯片测试精确度。