功率模块测试方法、系统、设备和介质

本申请提供了一种功率模块测试方法、系统、设备和介质。方法应用于芯片测试设备，芯片测试设备包括探针板，探针板包括多个相序模块，各相序模块分别与一驱动板连接。对于多个相序模块，在检测到目标驱动板上电时，目标驱动板从该相序模块中读取测试配置信息，目标驱动板基于测试配置信息中的初始相序电压信息，生成第一目标相序驱动电压，在接收到驱动指令时，目标驱动板生成驱动信号，并基于驱动信号通过相序模块将第一目标相序驱动电压以目标引脚输送到被测功率模块中以对被测功率模块进行驱动。由此确保了无论驱动板如何放置，其生成的相序驱动电压均能通过被测功率模块精准匹到配器件相应的相序上，减少人工操作误差，保障测试安全。