电芯异常检测方法、电子设备及存储介质

本申请提供了一种电芯异常检测方法、电子设备及存储介质。方法包括：获取待测电芯在第一状态下多个局部区域分别对应的第一温度、第一压力，以及待测电芯在第二状态下多个局部区域分别对应的第二温度、第二压力和参考电芯损耗参数；基于第一温度、第二温度、第一压力和第二压力，计算每个局部区域相对于待测电芯的全局区域的相对温度变化参数和相对压力变化参数；针对任意一个局部区域的第二压力，计算局部区域相对于相邻区域的异常压力变化参数；基于相对温度变化参数、相对压力变化参数、异常压力变化参数和参考电芯损耗参数，确定第二状态下每个局部区域对应的析锂数据；基于析锂数据，得到待测电芯在第二状态下的异常检测结果。