一种基于介质损耗的CVT老化寿命预测方法、装置、终端设备及存储介质

本发明公开了一种基于介质损耗的CVT老化寿命预测方法、装置、终端设备及存储介质，属于介质损耗测量领域，所述方法为：获取待测电容式电压互感器的介质损耗数据；根据介质损耗数据，确定待测电容式电压互感器的弛豫时间分布；根据弛豫时间与多物理场模型，生成待测电容式电压互感器的初始综合老化因子；对初始综合老化因子进行更新，获得待测电容式电压互感器的最终综合老化因子；基于最终综合老化因子进行非线性寿命概率建模，获得剩余寿命概率密度，并基于剩余寿命概率密度进行寿命预测，获得待测电容式电压互感器的老化寿命，因此，通过实施本发明，能够解决现有技术存在的电容式电压互感器的老化寿命预测准确率低的问题。