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案件記録
一种光刻掩膜版基版平面度检测装置
発明有効
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§ Ⅰ
案件概要
発明者
陈宏渊
IPC分類
G03F 1/84 (2012.01)H05F 3/00 (2006.01)B08B 5/02 (2006.01)B08B 5/04 (2006.01)
本申请公开了一种光刻掩膜版基版平面度检测装置,涉及光刻掩膜版基版测量技术领域;本申请包括检测机构,包括检测箱和设置在其内的激光干涉仪;传输机构,包括与检测箱连通的传输通道,所述传输通道的两端均转动设置有传输辊;本申请通过将清洁机构设置在传输路径上,实现了基版在途清洁,清洁完成后进行检测作业,清洁机构的设置,利用除静电件先行中和电荷,彻底解除污染物与基版表面的静电吸附,再通过气流吹扫件与负压抽取件构成的逆向气流,高效剥离并即时移除污染物,杜绝了清洁后的基版在转移过程中被二次污染的风险,为后续的激光干涉测量提供了一个洁净的检测表面,从而保证了平面度检测结果的准确性与可靠性。
外部リソース