数控设备在机检测方法、数控设备及介质

本发明提供了一种数控设备在机检测方法、数控设备及介质，所述数控设备在机检测方法包括：获取检测对象上的预设探测点；根据检测对象的第一几何形状信息以及预设探测点确定预设探测点在检测对象上的预设法向矢量；根据预设法向矢量以及探测球的第二几何形状信息确定与预设探测点对应的预设接近点；根据探测球的探测方向以及预设法向矢量对预设接近点和预设探测点进行校正，以获得目标接近点和目标探测点；控制探测球根据目标接近点和目标探测点对检测对象进行检测。本发明提高了探测球的检测精度，提高了数控设备在机检测的检测精度。