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기록
用于大规模微透镜阵列加工的下刀距离获取方法、介质及设备
발명유효
10청구항 · 3 독립항
§ Ⅰ
개요
발명자
朱利民; 陈驰林; 黄维维
IPC 분류
G05B 19/404 (2006.01)B28D 1/20 (2006.01)
本发明涉及超精密加工技术领域,尤其涉及用于大规模微透镜阵列加工的下刀距离获取方法、介质及设备。该方法针对微透镜单元非球面面形区域内的刀具定位点,将刀尖圆弧离散为空间点并映射至工件坐标系,通过非球面解析表达式获取各离散点对应工件表面点的法向量,计算刀具离散点切向量与工件法向量的内积绝对值,选取最小值点作为真实接触点,基于该点Z坐标差计算Z向补偿量作为下刀距离。该方法突破传统经验补偿局限,通过内积判据动态反映刀具与非球面的局部接触关系,避免系统误差。因刀尖圆弧半径小于微透镜最小曲率半径,确保接触点为唯一相切点,可有效防止凹面或高曲率区域过切,实现高精度加工。