基于巡检解决NAND Flash宽温应用的方法、装置、设备及介质

本发明公开了一种基于巡检解决NAND Flash宽温应用的方法、装置、设备及介质，涉及固态硬盘技术领域，包括：获取当前环境温度对应的当前温度等级，并读取NAND Flash存储块在数据写入时记录的历史温度等级；计算所述当前温度等级与所述历史温度等级之间的等级差值；将所述等级差值与预设阈值进行比较，并根据比较结果从NAND Flash存储块中识别出宽温高风险块；将识别出的所述宽温高风险块加入到预设的垃圾回收等待队列。本发明将传统被动纠错转变为主动预防，显著降低了因温度剧烈变化导致的数据不可纠正错误风险，从而在采用非宽温颗粒的前提下，有效提升了固态硬盘在宽温环境下的数据可靠性与稳定性。