SOC芯片性能测试装置、方法、设备和可读存储介质

本申请涉及一种SOC芯片性能测试装置、方法、设备和可读存储介质。所述装置中上位机用于根据测试需求，向电压模拟器发送激励指令，向信号发生器发送测试指令；电压模拟器用于根据激励指令，向测试板输入电压激励信号；信号发生器用于根据测试指令，向测试板输入测试信号；测试板用于对电压激励信号和测试信号进行调理，并将第一调理信号发送至待测SOC芯片，以指示待测SOC芯片对第一调理信号进行响应；测试板还用于获取待测SOC芯片返回的响应信号，对响应信号进行调理，将第二调理信号返回至上位机；上位机还用于对第二调理信号进行分析，得到性能测试结果。能够提升SOC芯片性能测试效率。