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기록
半导体EAP系统的自动仿真测试系统以及方法
발명유효
10청구항 · 5 독립항
§ Ⅰ
개요
발명자
高健; 周雅娟
IPC 분류
G06F 11/3668 (2025.01)
本发明提供了一种半导体EAP系统的自动仿真测试系统以及方法,属于半导体智造领域,具体包括通过测试用例代码化定义测试场景;利用设备仿真模块和外部系统仿真模块构建测试环境;通过自动化执行引擎驱动被测EAP程序的测试流程并生成与被测EAP程序对应的实时输出数据;将自动化执行引擎产生的实时输出数据与预期结果进行对比,生成测试报告。通过本申请的处理方案,不仅通过软件仿真的方式,真实模拟设备及外部系统的行为,在测试环节精准还原实际生产场景,减少对物理环境的依赖,提高测试覆盖度;而且将测试场景通过代码和配置文件固化,实现测试用例的版本化管理与一键式自动回归测试,显著提升测试效率,保障二次开发的质量。