一种基于SOLT校准的S参数级联不确定度评定方法

本发明属于微波器件的校准方法技术领域，涉及一种基于SOLT校准的S参数级联不确定度评定方法，包括：选择十二项误差模型作为VNA校准的自校准模型；选择合适的校准件，并确定校准前校准件的S参数及其不确定度；使用校准件对VNA进行自校准，得到对应的误差模型系数，从而修正VNA校准前测量的被测件的原始数据，得到被测件校准后的S参数；基于校准后的S参数，计算被测件的级联S参数；通过构建协方差矩阵，进行S参数级联不确定度评定。其有益效果是通过引入协方差矩阵简化不确定度传递过程，克服传统GUM法考虑变量相关性时的复杂性；同时为微波器件的S参数溯源提供了有力的理论支撑。