基于光谱优化的双层介质宽光谱参数同时重建方法

基于光谱优化的双层介质宽光谱参数同时重建方法，涉及光谱成像技术领域，针对现有基于多层介质模型进行宽光学参数重建时，探测辐射光信号受传统接触式测量方式的限制，重建精度较低的问题，本申请在传统的参与性介质光学参数测量及重建方法的基础上，引入了光场相机更精准探测介质边界的反射辐射测量信号；并结合“最速下降法寻初始点+共轭梯度法寻最优解”的重建优化算法，大幅加快了双层介质精确重建的效率，并打破传统接触式测量方式的限制，提升了重建精度；考虑到辐射测量信号对底层介质约化散射系数的敏感性极低的问题上，本申请引入了光谱维度的先验信息，改善双层介质尤其是底层介质吸收系数、约化散射系数的重建结果，实现了双层介质吸收光谱、约化散射光谱同时重建。