基于自适应开关矩阵的多功能测试点分配方法及系统

本发明提供基于自适应开关矩阵的多功能测试点分配方法及系统，涉及电子测试技术领域，通过获取集成电路拓扑信息构建开关矩阵，实现物理探针与逻辑测试点的动态连接；利用时分复用技术在不同时间段将同一探针分配至不同测试点，采集测试响应信号并计算偏差数值；基于偏差确定故障点，分析其对周围节点的影响程度，得出测试优先等级；根据优先等级动态调整测试时序，优先测试高优先级节点，控制开关状态实现测试资源的智能分配，提高测试效率与故障覆盖率。