逻辑电路单粒子瞬态故障注入方法及系统

逻辑电路单粒子瞬态故障注入方法及系统，涉及数字芯片领域。本申请是为了解决现有故障注入技术中可靠性评估结果方差大的问题。本申请在被测逻辑电路中提取待测试电路信号列表，根据所述被测逻辑电路和测试平台生成例化关系，将所述待测试电路信号列表和所述例化关系组合为用于故障注入的信号列表；基于所述用于故障注入的信号列表对所述被测逻辑电路进行故障注入试验，实现逻辑电路的单粒子瞬态故障注入。