LED芯片检测方法、系统和设备

本申请公开一种LED芯片检测方法、系统和设备，该方法包括获取LED芯片的待检测图像；将待检测图像输入第一模型，得到待检测图像对应的第一类别，其中，第一类别包括缺陷类别和正常类别；将第一图像输入第二模型，得到第一图像对应的第二类别；其中，第一图像为属于缺陷类别的待检测图像，第二类别包括由缺陷类别划分的缺陷子类别；若第一图像不属于缺陷子类别，则确定第一图像属于假阳；在第一模型和第二模型对待检测图像推理的总次数达到或超过预设数值时，根据已检测图像的特征熵与参考熵的对比结果，更新分类置信度阈值，分类置信度阈值用于调整第一模型和第二模型的分类判定边界。该方法能够降低对LED芯片检测的误检率。