印制电路板微型缺陷监测方法

本公开提供一种印制电路板微型缺陷监测方法。上述的印制电路板微型缺陷监测方法包括获取印制电路板的微型缺陷识别参数；将微型缺陷识别参数与预设缺陷识别参数进行检分平差处理，以得到缺陷视检平差量；根据缺陷视检平差量向自动视觉检测器发送缺陷等级调节信号，以调整缺陷等级划分模式。在对微型缺陷识别参数采集后，对印制电路板的当前微型缺陷形态进行确定，之后将微型缺陷识别参数与标准的缺陷识别参数进行校验比对，便于确定印制电路板的缺陷形态的差异程度，最后根据缺陷形态的差异程度，对印制电路板的缺陷等级划分方式进行调整，便于区分出不同缺陷等级的微型缺陷，提高对微小缺陷检测精准度。