缺陷异常识别方法及系统、设备、存储介质及计算机程序产品

一种缺陷异常识别方法及系统、设备、存储介质及计算机程序产品，方法包括：获取产品表面检测图，产品表面检测图中分布有产品表面不同位置的缺陷；对产品表面检测图中的缺陷进行分类处理，标记每个缺陷的缺陷类别；分别对每种缺陷类别的缺陷分布进行异常识别处理。本公开有利于提高缺陷异常识别的普适性。